 |
 |
| Ensino | | |
| Pesquisa | | |
| Outros | | |
| Projetos | | |
| ENG09007 - Metrologia e Ensaios |
| Carga horária | 02 h/a |
| Pré-requisitos | ENG09004 |
| Professores |
Alejandro German Frank (agerfrank producao.ufrgs.br) |
Súmula A metrologia estuda os aspectos teóricos e práticos relacionados às medições. É essencial para o desenvolvimento e a inovação tecnológica. A disciplina apresenta a estrutura de normatização e padronização para calibração e ensaios. O conteúdo inclui métodos quantitativos para a determinação da incerteza de medição e análise do sistema de medição.
Objetivos Geral: Capacitar o aluno na aplicação da metrologia e ensaios no desenvolvimento e fabricação de produtos.
Específicos: (i) Contextualizar a metrologia na realização dos processos industriais; (ii) Apresentar os conceitos sobre sistemas de medições e métodos de calibração e ensaios; (iii) Capacitar o aluno para a determinação da incerteza de medição e a análise do sistema de medição.Programa 1) Contextualização da Metrologia: Conceito, história, classificação de metrologia, processo de medição. 2) Unidades de medida e o Sistema Internacional: Padrões de medida, rastreabilidade e Normatização (NBR ISO 9001, NBR ISO10012, ISO/TS 16949 e NBR ISO/IEC17025). 3) Sistemas de Medição e Equipamentos de Inspeção, Medição e Ensaio (EIME) 4) Medição e Erro (amostragem; precisão; exatidão e tipos de erros) 5) Resultado da medição: Incerteza da Medição 6) Análise do Sistema de Medição: tendência, linearidade, R&R. 7) Métodos de Calibração e Ensaios Método A disciplina é ministrada por um Professor Coordenador e terá a participação de um ou mais tutor(es) da área (professores e pesquisadores do PPGEP). O método contempla: aulas expositivas, reuniões de orientação com coordenador ou tutores; realização de atividade contando com a orientação do tutor; elaboração de trabalho segundo normas e exigências do trabalho científico e apresentações orais do trabalho elaborado.
Avaliação A avaliação é composta de três notas: uma prova (peso 40%), um seminário (peso 30%) e uma média dos trabalhos realizados em aula, da participação e da presença (peso 30%).
As notas geram uma média (M). É considerado aprovado o aluno que tiver média M igual ou superior a 6,0 (seis), com nota mínima na prova igual ou superior a 4,00.
Os alunos que não preencherem este requisito, mas com média superior a 3,0 (três) e frequência nas aulas igual ou superior a 75%, serão submetidos a um exame final.
Após o exame, a nota final é calculada como:
NF = (M + 2 x Exame)/3,
A NF deverá ser igual ou superior a 6,0 (seis) para aprovação.
Cumprimento de prazos: Para os trabalhos entregues após a data limite, serão descontados 20% da nota no primeiro dia e mais 10% para cada dia adicional. Frequência: Será controlada a presença dos alunos. Obrigatório: 75% da presença
Bibliografia Principal: ABNT. NBR ISO/IEC 17025: Requisitos gerais para competência de laboratórios de ensaio e calibração. Rio de Janeiro, 2005. ABNT. NBR ISO 9001:2008: Sistema de gestão da qualidade. ABNT. NBR ISO 10012:2003: Sistemas de gestão de medição (SGM). ABNT. NBR ISO/TS 16949: 2010. Sistemas de gestão da qualidade - Requisitos particulares para aplicação da ABNT NBR ISO 9001:2008 para organizações de produção automotiva e peças de reposição pertinentes. ABNT NBR ISO/IEC 17025:2005. Requisitos gerais para a competência de laboratórios de ensaio e calibração. ALBERTAZZI G. Jr., Armando; SOUSA, André roberto. Fundamentos de metrologia científica e industrial. Barueri, SP: Manole, 2008. Bureau International des Poids et Mesures (BIPM). The International System of units (SI). English version, National Institute of Standards and Technology, 2008. Disponível em: http://physics.nist.gov/Pubs/SP330/sp330.pdf INMETRO. Vocabulário Internacional de Metrologia – Conceitos fundamentais e gerais e termos associados (VIM). Rio de Janeiro, 2008. Disponível em: http://www.redemetrologica.com.br/ftp/dados/Downloads/download_98.pdf LINK, Walter. Expressão da Incerteza de Medição. INMETRO (2da. Edição), 1999. MONTGOMERY, D. C.; RUNGER, G. C. Applied Statistics and Probability for Engineers. New York: John Wiley and Sons, 2003. PIZZOLATO, Morgana. Apostila de Metrologia e Ensaios. Revisão junho/2004. Disponível na Biblioteca da Escola de Engenharia da UFRGS (impresso). RIBEIRO, José Luis Duarte; CATEN, Carla ten. Controle estatístico do processo. Série Monográfica Qualidade. Porto Alegre: FEENG/UFRGS, 172p., 2012. Complementar: JORNADA, Daniel. Implantação de um guia orientativo de incerteza de medição para avaliadores de laboratórios da Rede Metrológica RS. Dissertação de Mestrado. Programa de pós-graduação em Engenharia de Produção. UFRGS. Porto Alegre. 2009. PEDOTT, A. H. Análise de Dados Funcionais Aplicada ao Estudo de Repetitividade e Reprodutibilidade: ANOVA das Distâncias. Porto Alegre, 2010. Dissertação de Mestrado em Engenharia da Produção. Escola de Engenharia. Universidade Federal do Rio Grande do Sul. 2010. PIZZOLATO, Morgana. Mapeamento da estrutura global que fornece confiança às medições: análise da inserção brasileira. Tese de Doutorado. Programa de pós-graduação em Engenharia de Produção. UFRGS. Porto Alegre. 2006. Sites de interesse: Bureau International des Poids et Mesures (BIPM). http://www1.bipm.org/en INMETRO. http://www.inmetro.gov.br Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB). http://www.ptb.de/en Rede de Tecnologia Rio de Janeiro (REDETEC). http://www.redetec.org.br Rede Metrológica de Minas Gerais (RMMG). http://www.rmmg.com.br Rede Metrológica do Estado de São Paulo (REMESP). http://www.remesp.org.br Rede Metrológica do Rio Grande do Sul (RMRS). http://www.redemetrologica.com.br Sistema Interamericano de Metrologia (SIM). http://www.sim-metrologia.org.br
Cronograma
Arquivos para Download
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| DISCIPLINAS | |||||||
|
